Hellma  用于吸光度和熒光測量的比色皿

用于吸光度和熒光測量的比色皿 Hellma Analytics 生產(chǎn)各種用于光譜學(xué)和細(xì)胞計(jì)數(shù)的比色皿，光路長度跨度為 0.01 mm 至 100 mm 及以上。

由于其在吸光度和熒光測量時(shí)的穩(wěn)定性、最高精確度和可靠性，Hellma 比色皿在實(shí)驗(yàn)室的各個(gè)領(lǐng)域都表現(xiàn)出色。

更重要的是，功能優(yōu)化的邊角斜角設(shè)計(jì)可以防止因分裂而造成的損壞風(fēng)險(xiǎn)，并協(xié)助用戶進(jìn)行日常工作。根據(jù)要求，Hellma能夠生產(chǎn)針對特定應(yīng)用領(lǐng)域定制的定制模型。

比色皿透射率的測量 如果需要，可以將比色皿進(jìn)行光譜校準(zhǔn)，分成具有相等透射率值的組（測量不確定度±1%）。這些比色皿有一個(gè)三位數(shù)的校準(zhǔn)代碼，其中包含有關(guān)材料的編碼數(shù)據(jù)以及比色皿材料典型波長下的透射率。

比色皿的旋光檢查 可根據(jù)要求對內(nèi)部寬度大于 5 mm 的比色皿進(jìn)行旋光檢查。它們標(biāo)有“P"，并附有測試證書，確認(rèn)偏振面的旋轉(zhuǎn)不超過 0.01 度。

優(yōu)勢 

● 窗口平行度高，最大公差為 ± 0.01 毫米 

● 出色的光程長度精度低至 0.003 毫米 (3 µm)，可實(shí)現(xiàn)高尺寸精度和可重復(fù)的測量結(jié)果 

● 光學(xué)窗口表面平整度為 0.001 毫米 (3 µm) 1 µm) 

● 由于各個(gè)組件的熱粘合（有效地整體式），因此具有非常高的溫度穩(wěn)定性和耐化學(xué)性 

● 保證從 200 nm 到 3500 nm 的透射率至少為 82%，具體取決于材料

比色皿并不全部相同，即使它們有時(shí)看起來相同。差異在于細(xì)節(jié)，并且對于測量結(jié)果至關(guān)重要。

以Hellma的比色皿窗口為例，它擁有很好的品質(zhì)和超過 0.001 毫米（1 微米）的平面度公差。兩個(gè)窗口表面相對于彼此的平行度同樣重要。

Hellma的高精度生產(chǎn)保證比色皿窗口波的正面變形小于 4 lambda，如果 lambda = 546 nm，則約為 0.001 毫米（1 微米）。高水平的平整度表明 Hellma Analytics 的比色皿正在設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)?？傮w而言，這是進(jìn)行可靠、可重復(fù)和精確測量的理想基礎(chǔ)。

Hellma  用于吸光度和熒光測量的比色皿